Оценка качества новых рентгенозащитных покрытий

Аннотация

Применение полимерных материалов и композитов на их основе для защиты от различных видов излучений получило достаточно широкое распространение в последние годы. В связи с этим, актуальным является создание новых рентгенозащитных материалов на основе полимеров. Данная работа посвящена разработке комплексной методики с использованием атомно-силовой микроскопии (АСМ) для неразрушающего контроля качества рентгенозащитных самоклеющихся полимерных покрытий. Для обеспечения высоких уровней защиты необходимо обеспечить равномерное распределение частиц наполнителя в полимерной матрице. Процесс диспергирования частиц в полимере (ПМ) определяется соотношением интенсивности взаимодействия между собой и частиц с полимерной матрицей. Поэтому для оптимизации технологии и состава композиции необходимо контролировать однородность распределения наполнителя в матрице, а также оценивать силу межфазных взаимодействий. Были исследованы образцы на основе разных видов каучуков с наполнителями (барит, свинец). Диагностика образцов проводилась на сканирующем зондовом микроскопе “SolverNext” (про-во “НT-MДТ”, г. Зеленоград) в нескольких модах АСМ-микроскопии без смены кантилевера: топография; фазовый контраст; силовая спектроскопия. Обработка АСМ- изображений проводилась с помощью штатного программного обеспечения “ImageAnalisisP9”. Показано, что набор взаимодополняющих мод АСМ помог выявить тонкие различия в микроструктуре композита, что важно для оценки качества материалов с использованием нанопорошков.