Особенности образования импульсов ошибок на выходе КМОП тройного мажоритарного элемента на логике И-НЕ при сборе заряда с треков одиночных ионизирующих частиц
https://doi.org/10.1134/S2304487X21030123
Аннотация
Ключевые слова
импульс ошибки,
логический элемент,
мажоритарный элемент,
моделирование,
одиночная частица,
сбор заряда,
трек
При поддержке: Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ в рамках научного проекта № 19-07- 00651
Об авторах
В. Я. Стенин
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”; НИИ системных исследований Российской академии наук
Россия
Россия
115409
117218
Москва
Ю. В. Катунин
НИИ системных исследований Российской академии наук
Россия
Россия
117218
Москва
Список литературы
1. Dodd P. E., Massengill L. W. Basic Mechanisms and Modeling of Single-Event Upset in Digital Microelectronics // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2003. V. 50. № 3. P. 583–602.
2. Dodd P. E., Shaneyfelt M. R., Felix J. A., Shwank J. R. Production and Propagation of Single-Event Transients in High-Speed Digital Logic ICs // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2004. V. 51. № 6. P. 3278–3284.
3. Стенин В. Я. Особенности образования помех при переключении КМОП-элемента и воздействии ионизирующей частицы / В. Я. Стенин, Ю. В. Катунин // Вестник НИЯУ МИФИ. – 2020. – Т. 9. – № 4. – С. 345–356.
4. Стенин В. Я. Моделирование переходных процессов в мажоритарном элементе при переключении и сборе заряда с трека одиночной частицы / В. Я. Стенин, Ю. В. Катунин // Микроэлектроника. – 2020. – Т. 49. – № 5. – С. 353–365.
5. Schrape O., Breitenreiter A., Andjelkovic M., Krstic M. D-SET Mitigation Using Common Clock Tree Insertion Techniques for Triple-Clock TMR Flip-Flop // In 21st Euromicro Conference on Digital System Design (DSD). 2018. P. 201–205.
6. Jianwei Zhang, Yajun Li, Tao Han, Jinghu Li. Radiation Hardened Design Based on TMR-5DFF for ASIC // In IEEE 5th International Conference on Computer and Communications (ICCC). 2019. P. 981–986.
7. Danilov I. A., Gorbunov M. S., Antonov A. A. SET Tolerance of 65 nm CMOS Majority Voters: A Comparative Study // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2014. V. 61. P. 1597–1602.
8. Atkinson N. M., Witulski A. F., Holman W. T., Ahlbin J. R., Bhuva B. L., Massengill L. W. Layout technique for single-event transient mitigation via pulse quenching // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2011. V. 58. № 6. 3. P. 885–890.
9. Garg R., Khatri S. P. Analysis and design of resilient VLSI circuits: mitigating soft errors and process variations. New York: Springer, 2010. Pp. 194–205.
Рецензия
Для цитирования:
Стенин В.Я., Катунин Ю.В. Особенности образования импульсов ошибок на выходе КМОП тройного мажоритарного элемента на логике И-НЕ при сборе заряда с треков одиночных ионизирующих частиц. Вестник НИЯУ МИФИ. 2021;10(3):244-252. https://doi.org/10.1134/S2304487X21030123
For citation:
Stenin V.Ya., Katunin Yu.V. Logic when Collecting a Charge from Tracks of Single Ionizing Particles. Vestnik natsional'nogo issledovatel'skogo yadernogo universiteta "MIFI". 2021;10(3):244-252. (In Russ.) https://doi.org/10.1134/S2304487X21030123
Просмотров:
95
Послать статью по эл. почте 