Коррекция длительности импульсов помех в КМОП комбинационных логических элементах при сборе заряда с треков одиночных частиц
https://doi.org/10.1134/S2304487X20020145
Аннотация
Ключевые слова
импульс помехи,
комбинационный элемент,
мажоритарный элемент,
моделирование,
одиночная ионизирующая частица,
передача энергии,
трек частицы
При поддержке: Исследование выполнено при финансовой под держке РФФИ в рамках научного проекта № 19-07-00651
Об авторах
В. Я. Стенин
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”; НИИ системных исследований Российской академии наук
Россия
Россия
115409
117218
Москва
Ю. В. Катунин
НИИ системных исследований Российской академии наук
Россия
Россия
117218
Москва
Список литературы
1. Soft errors in modern electronic systems / Editor M. Nicolaidis. New York: Springer, 2011. P. 35–37.
2. Dodd P. E., Messengill L. W. Basic Mechanisms and Modeling of Single-Event Upset in Digital Microelectronics // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2003. V. 50. № 3. P. 583–602.
3. Dodd P. E., Shaneyfelt M. R., Felix J. A., Shwank J. R. Production and Propagation of Single-Event Tranients in High-Speed Digital Logic ICs // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2004. V. 51. № 6. P. 3278–3284.
4. Ferlet-Cavrois V., Messengill L. W., Couker P. Single-Event Transients in Digital CMOS – A Review // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2013. V. 60. № 3. P. 1767–1790.
5. Mahatme N. N., Jagannathan S., Loveless T. D., Massengill L. W., Bhuva B. L., Wen S.-J., Wong R. Comparison of combinational and sequential error rates for a deep submicron process // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2011. V. 58. № 6. P. 2719–2725.
6. Ahlbin J. R., Massengill L. W., Bhuva B. L., Narasimham B., Gadlage M. J., Eaton P. H. Single-event transient pulse quenching in advanced CMOS logic circuits // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2009. V. 56. № 6. P. 3050–3056.
7. Atkinson N. M., Witulski A. F., Holman W. T., Ahlbin J. R., Bhuva B. L., Massengill L. W. Layout technique for single-event transient mitigation via pulse quenching // IEEE Transactions on Nuclear Science. 2011. V. 58. № 3. P. 885–890.
8. Stenin V. Ya., Antonyuk A. V., Katunin Yu. V., Stepanov P. V. Translation Lookaside Buffer on the 65-nm STG DICE Hardened Elements // Telfor Journal. 2018. V. 10. № 1. P. 50−55.
9. Катунин Ю. В. Компенсация импульсов помех в троичном КМОП мажоритарном элементе на логических элементах И-НЕ при воздействии одиночных ионизирующих частиц / Ю. В. Катунин, В. Я. Стенин // Вестник НИЯУ МИФИ. – 2019. – Т. 8. – № 4. – С. 357–364.
10. Катунин Ю. В. Моделирование воздействия одиночных ионизирующих частиц на логические элементы КМОП тройного мажоритарного элемента / Ю. В. Катунин, В. Я. Стенин // Микроэлектроника. – 2020. – Т. 49. – № 2. – С. 71−80.
11. Garg R., Khatri S. P. Analysis and design of resilient VLSI circuits: mitigating soft errors and process variations. New York: Springer, 2010. P. 194–205.
Рецензия
Для цитирования:
Стенин В.Я., Катунин Ю.В. Коррекция длительности импульсов помех в КМОП комбинационных логических элементах при сборе заряда с треков одиночных частиц. Вестник НИЯУ МИФИ. 2020;9(3):226-235. https://doi.org/10.1134/S2304487X20020145
For citation:
Stenin V.Ya., Katunin Yu.V. Correction of the Duration of Error Pulses in CMOS Combinational Logic Elements when Collecting Charge from Tracks of Single Particles. Vestnik natsional'nogo issledovatel'skogo yadernogo universiteta "MIFI". 2020;9(3):226-235. (In Russ.) https://doi.org/10.1134/S2304487X20020145
Просмотров:
96
Послать статью по эл. почте 