Для цитирования:
Стенин В.Я., Катунин Ю.В. Особенности образования помех при переключении КМОП-элемента и воздействии ионизирующей частицы. Вестник НИЯУ МИФИ. 2020;9(4):345-356. https://doi.org/10.56304/S2304487X20030098
For citation:
Stenin V.Ya., Katunin Yu.V. Features of a Noise Pulse Formation when Switching a CMOS Element and Exposure to an Ionizing Particle. Vestnik natsional'nogo issledovatel'skogo yadernogo universiteta "MIFI". 2020;9(4):345-356. (In Russ.) https://doi.org/10.56304/S2304487X20030098
Послать статью по эл. почте 