Проверка адекватности восстановления ПФ по EBSD-измерениям, выполненным при различных значениях параметров эксперимента
https://doi.org/10.1134/S2304487X2001006X
Аннотация
Ключевые слова
EBSD,
шаг сканирования,
пороговый угол разориентации,
поликристалл,
математическое моделирование,
полюсные фигуры,
RP-фактор,
критерий Колмогорова–Смирнова,
количественный текстурный анализ
При поддержке: Исследование выполнено при финансовой поддержке РФФИ в рамках научного проекта № 18-31-00036
Об авторах
А. О. Овчинникова
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
Россия
Россия
115409
Москва
Т. И. Савелова
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
Россия
Россия
115409
Москва
Список литературы
1. Wright S. I., Field D. P. Scalar of Texture Heterogeneity. Materials Science Forum. 2005. V. 495–7. P. 207.
2. Wright S. I. A Parametric Study of Electron Backscatter Diffraction based Grain Size Measurements. Practical Metallography, 2010. V. 47. № 1. P. 16.
3. Миронов С. Ю. Анализ пространственного распределения ориентировок элементов структуры поликристаллов, получаемого методами просвечивающей электронной микроскопии и обратно рассеянного пучка электронов в сканирующем электронном микроскопе / С. Ю. Миронов [и др.] // ФТТ. – 2005. – Т. 47. – № 7. – С. 1217.
4. Tonga V., Jianga J., Wilkinsonb A. J., Brittona T. B. The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements. Ultramicroscopy. 2015. V. 155. P. 62.
5. Randle V. Introduction to texture analysis: macrotexture, microtexture and orientation mapping: 2nd ed. Boca Raton: CRC Press, 2010. P. 488.
6. Humphreys F. J. Grain and subgrain characterisation by electron backscatter diffraction, Journal of materials science. 2001. V. 36. P. 3833.
7. Антонова А. О. Оценка погрешностей вычисления характеристик текстуры поликристаллов путем изменения параметров измерений методами электронной микроскопии / А. О. Антонова, Т. И. Савелова // Журн. вычислит. матем. и матем. физ. – 2015. – Т. 55. – № 2. – С. 322.
8. Антонова А. О. Исследование методами электронной микроскопии влияния параметров эксперимента на вычисление полюсных фигур поликристаллических материалов / А. О. Антонова, Т. И. Савелова // Кристаллография. – 2016. – Т. 61.– № 3. – С. 495.
9. Ovchinnikova A. O., Savyolova T. I. A novel approach of the grain structure modelling in the framework of polycrystalline specimen and EBSD experiment simulation. IOP Conf. Series: Journal of Physics: Conf. Series. 2019. V. 1205. P. 012043.
10. Виглин А. С. Количественная мера текстуры поликристаллического материала. Текстурная функция / А. С. Виглин // ФТТ. – 1960. – Т. 2. – № 10. – С. 2463.
11. Bunge H. J. Experimental Techniques of Texture Analysis. Experimental Techniques of Texture Analysis: ed.by Bunge H. J. DGM Informationsgesellschaft mbH. 1986. P. 1.
12. Welch P. I. Neutron Diffraction Texture Analysis. Experimental Techniques of Texture Analysis: ed. by Bunge H. J. DGM Informationsgesellschaft mbH. 1986. P. 183.
13. Bunge H. J., Grossterlinden R., Haase A., Ortega R., Szpunar J. A., Van Houtte P. Advanced Experimental Techniques in X-ray Texture Analysis. Materials Science Forum. 1994. V. 157. P. 71.
14. Matthies S., Wenk H.-R., Vinel G. W. Some Basic Concepts of Texture Analysis and Comparison of Three Methods to Calculate Orientation Distributions from Pole Figures. Journal of Applied Crystallography. 1988. V. 21. P. 285.
15. Lychagina T., Nikolayev D. Quantitative comparison of measured crystallographic texture Journal of Applied Crystallography. 2016. V. 49. P. 1290.
16. Kolmogoroff A. N. Sulla determinazione empirica di una legge di distribuzione. G. Inst. Ital. Attuari. 1933. V. 4. P. 83.
17. Smirnov N. V. On the estimation of the discrepancy between empirical curves of distributions for two independent samples. Moscow State Univ. Bull. 1939. V. 2. P. 3.
18. HKL CHANNEL 5 Software [https://www.oxinst.com/].
19. Савелова Т. И. Методы решения некорректных задач текстурного анализа и их приложения / Т. И. Савелова, Т. М. Иванова, М. В. Сыпченко. – Москва: НИЯУ МИФИ, 2012. – С. 268.
20. Borovkov M., Savelova T. The computational approaches to calculate normal distributions on the rotation group. Mag. Appl. Cristallogr. 2007. V. 40. P. 449.
21. Bunge H. J. Texture Analysis in Material Sciences. Mathematical Methods. Butterworths Publ. London, 1982. P. 593.
22. Рогинский К. Н. Вычисление полюсных фигур ядерным методом по набору отдельных ориентаций зерен на группе SO(3) / К. Н. Рогинский, Т. И. Савелова // Журн. вычислит. матем. и матем. физ. – 2010. – Т. 50. – № 5. – С. 949.
23. Koay C. G. A simple scheme for generating nearly uniform distribution of antipodally symmetric points on the unit sphere. J. Comput. Sci. 2011. V. 2. P. 88.
24. Айвазян С. А. Прикладная статистика и основы эконометрики / С. А. Айвазян, В. С. Мхитарян. – М.: ЮНИТИ-ДАТА, 2001. – С. 656.
25. Press W. H., Teukolsky S. A., Vetterling W. T., Flannery B. P. Numerical Recipes: the Art of Scientific Computing 3rd Edition. Cambridge University Press, 2007. P. 1235.
26. Tonga V., Jianga J., Wilkinsonb A. J., Brittona T. B. The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements. Ultramicroscopy. 2015. V. 155. P. 62.
27. Lin H. P., Ng T. S., Chen C. L., Kuo J. C., Ding S. X. Comparison of deformation texture in FePd alloy via X-ray diffraction and electron backscatter diffraction techniques. Micron. 2013. V. 44. P. 433.
Рецензия
Для цитирования:
Овчинникова А.О., Савелова Т.И. Проверка адекватности восстановления ПФ по EBSD-измерениям, выполненным при различных значениях параметров эксперимента. Вестник НИЯУ МИФИ. 2020;9(1):58-65. https://doi.org/10.1134/S2304487X2001006X
For citation:
Ovchinnikova A.O., Savyolova T.I. Verification of the Reconstruction of Pole Figures from Electron Backscatter Diffraction Measurements Performed under Variation of Experimental Parameters. Vestnik natsional'nogo issledovatel'skogo yadernogo universiteta "MIFI". 2020;9(1):58-65. (In Russ.) https://doi.org/10.1134/S2304487X2001006X
Просмотров:
113
Послать статью по эл. почте 